Fecha de publicación: 01/01/2007
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 35: Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados en plástico (IEC 60749-35:2006) (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)
La norma UNE-EN 60749-35:2006, «Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 35: Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados en plástico», establece los requisitos para la evaluación de la resistencia a la vibración y al ruido de los dispositivos semiconductores encapsulados en plástico, mediante el método de microscopía acústica.
La norma define los procedimientos para la preparación y montaje de los componentes electrónicos, así como las condiciones de ensayo y medición. Se establecen también los límites máximos permitidos para la amplitud de vibración y el nivel de ruido que pueden ser tolerados por los dispositivos.
La microscopía acústica se utiliza para evaluar la respuesta del dispositivo a las vibraciones y el ruido, mediante la medición de la tensión y la corriente en el circuito. Se establecen también procedimientos para la calibración y verificación de los instrumentos utilizados.
La norma es aplicable a todos los dispositivos semiconductores encapsulados en plástico, incluyendo diodos, transistores, condensadores, resistencias y otros componentes electrónicos. La implementación de esta norma ayuda a garantizar la calidad y durabilidad de los dispositivos electrónicos, reduciendo el riesgo de fallos y mejorando su rendimiento.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar