Fecha de publicación: 01/11/2014
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 42: Almacenamiento en temperatura y humedad (Ratificada por AENOR en noviembre de 2014.)
La norma UNE-EN 60749-42:2014, «Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 42: Almacenamiento en temperatura y humedad», establece los procedimientos para evaluar la resistencia a la condición de almacenamiento de dispositivos de semiconductores expuestos a temperaturas y humedades ambientales.
La norma se aplica a dispositivos de semiconductores, incluyendo diodos, transistores, integrados de circuito y otros componentes electrónicos. El objetivo es evaluar la capacidad de los dispositivos para soportar condiciones de almacenamiento que pueden afectar su función y vida útil.
La norma describe tres métodos de ensayo:
1. Ensayo en temperatura constante: se establece una temperatura específica (entre -40°C y 85°C) durante un período determinado (de 24 horas a varios meses).
2. Ensayo en humedad relativa constante: se mantiene una humedad relativa del 10% al 90% durante un período determinado.
3. Ensayo en temperatura y humedad combinadas: se combina la exposición a temperaturas y humedades ambientales para evaluar la resistencia del dispositivo.
La norma también establece los requisitos para la preparación de los dispositivos antes del ensayo, como la limpieza y la estabilización. Además, se definen los parámetros de medición y los límites de aceptación para evaluar el rendimiento del dispositivo después del ensayo.
La norma UNE-EN 60749-42:2014 es una guía práctica para desarrolladores y fabricantes de dispositivos de semiconductores que desean garantizar la calidad y durabilidad de sus productos.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar