Fecha de publicación: 01/07/2017
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 9: Permanencia del marcado. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2017.)
La norma UNE-EN 60749-9:2017, «Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 9: Permanencia del marcado», establece los requisitos para la evaluación de la permanencia del marcado en dispositivos de semiconductores. Esta norma es aplicable a todos los tipos de dispositivos de semiconductores, incluyendo diodos, transistores, integrados y otros componentes.
La permanencia del marcado se refiere a la capacidad del dispositivo para mantener su identificación y características durante un período determinado de tiempo. La norma establece métodos de ensayo para evaluar la resistencia del marcado al desgaste, la corrosión y otros factores ambientales que puedan afectar su legibilidad.
Los métodos de ensayo incluyen pruebas de humedad, temperatura, vibración y choque mecánico. Estas pruebas se diseñaron para simular las condiciones reales en las que los dispositivos de semiconductores se encuentran en servicio.
La norma también establece requisitos para la presentación de los resultados de las pruebas, incluyendo la documentación de los datos y la interpretación de los resultados. Los fabricantes de dispositivos de semiconductores deben cumplir con estos requisitos para garantizar que sus productos cumplan con los estándares de calidad.
En resumen, la norma UNE-EN 60749-9:2017 proporciona un marco para la evaluación y verificación de la permanencia del marcado en dispositivos de semiconductores, lo que es fundamental para garantizar su funcionamiento seguro y confiable en diferentes entornos.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar