Fecha de publicación: 01/06/2012
Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 13: Métodos de medición del ensayo tipo de resistencia adhesiva al curvado y cizallamiento para estructuras MEMS (Ratificada por AENOR en junio de 2012.)
La norma UNE-EN 62047-13:2012 se refiere a los métodos de medición del ensayo tipo para la evaluación de la resistencia adhesiva al curvado y cizallamiento en estructuras Micro-Electromecánicas (MEMS). Esta norma es aplicable a dispositivos semiconductores que integran componentes MEMS, como sensores, actuadores y sistemas de comunicación.
La norma establece los requisitos para la realización del ensayo tipo, incluyendo la preparación de las muestras, el montaje de las estructuras MEMS en un substrato, la aplicación de cargas y fuerzas, y la medición de la resistencia adhesiva. El ensayo se realiza mediante una máquina de ensayo tipo que aplica una carga constante y variable a la estructura MEMS, mientras que se mide la deformación y el deslizamiento entre las capas.
La norma también especifica los requisitos para la calibración y verificación de la máquina de ensayo, así como los procedimientos para la interpretación de los resultados. El objetivo es evaluar la resistencia adhesiva de la estructura MEMS en condiciones de curvado y cizallamiento, lo que permite evaluar su capacidad para soportar las cargas y fuerzas que se aplican durante el funcionamiento.
La norma UNE-EN 62047-13:2012 es una guía práctica para los fabricantes y usuarios de dispositivos MEMS, ya que proporciona un método estandarizado y reproducible para la evaluación de la resistencia adhesiva en estas estructuras.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar