Fecha de publicación: 01/11/2014
Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 22: Métodos de ensayo de tensión electromecánica para películas delgadas conductoras sobre sustratos flexibles (Ratificada por AENOR en noviembre de 2014.)
La norma UNE-EN 62047-22:2014 establece los métodos de ensayo para evaluar la resistencia a la tensión electromecánica (EMI) de películas delgadas conductoras sobre sustratos flexibles en dispositivos micro-electromecánicos. Esta norma se aplica a las películas delgadas conductoras utilizadas como capas conductoras en dispositivos semiconductores, tales como sensores, actuarios y otros componentes electrónicos.
La norma describe los procedimientos para realizar ensayos de tensión electromecánica estática y dinámica en condiciones controladas. El objetivo es evaluar la capacidad de la película conductor para soportar tensiones electromecánicas sin sufrir daños o alteraciones en su estructura y función.
Entre los métodos de ensayo descritos se encuentran:
* La medición de la resistencia eléctrica entre dos puntos de la película conductor bajo condiciones estáticas.
* La medición de la tensión electromecánica necesaria para producir una falla en la película conductor.
* El análisis de la respuesta dinámica de la película conductor a estímulos electromecánicos.
La norma también establece los requisitos para el equipo y los materiales utilizados en los ensayos, así como las condiciones ambientales y los procedimientos de medida. Además, se incluyen recomendaciones para la interpretación de los resultados y la evaluación de la conformidad con los requisitos de diseño.
La norma UNE-EN 62047-22:2014 es una herramienta importante para garantizar la calidad y la fiabilidad de los dispositivos semiconductores que utilizan películas delgadas conductoras sobre sustratos flexibles.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar