Fecha de publicación: 01/01/2007
Dispositivos semiconductores. Parte 3: Dispositivos micro-electromecánicos. Pieza de ensayo patrón de película fina para ensayo de tensión (IEC 62047-3:2006) (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)
La norma UNE-EN 62047-3:2006, «Dispositivos semiconductores. Parte 3: Dispositivos micro-electromecánicos. Pieza de ensayo patrón de película fina para ensayo de tensión», establece los requisitos y procedimientos para la fabricación y verificación de piezas de ensayo patrón de película fina destinadas al ensayo de tensión en dispositivos micro-electromecánicos.
La norma se aplica a las piezas de ensayo patrón de película fina utilizadas para evaluar la resistencia a la tracción y a la compresión de los materiales utilizados en la fabricación de dispositivos micro-electromecánicos. Estas piezas deben ser homogéneas, con una superficie plana y sin defectos que puedan influir en el resultado del ensayo.
La norma establece los siguientes requisitos para las piezas de ensayo patrón:
* Dimensiones: las piezas deben tener una forma rectangular o circular, con un área de sección transversal constante.
* Materiales: pueden ser fabricadas con materiales metálicos o no metálicos, siempre que sean homogéneos y no tengan defectos que puedan influir en el resultado del ensayo.
* Superficie: la superficie de las piezas debe ser plana y sin defectos visibles.
* Resistencia a la tracción y compresión: las piezas deben ser capaces de soportar una tensión constante o variable, según sea necesario, sin sufrir roturas o deformaciones significativas.
La norma también establece los procedimientos para la verificación y calibración de las piezas de ensayo patrón, incluyendo la medición de la resistencia a la tracción y compresión, así como la inspección visual de la superficie de las piezas.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar