Fecha de publicación: 01/11/2012
Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética. Parte 8: Medición de la inmunidad radiada. Método de la línea TEM de placas con circuito integrado (IC) (Ratificada por AENOR en noviembre de 2012.)
La norma UNE-EN 62132-8:2012 establece los requisitos para la medición de la inmunidad radiada en circuitos integrados (IC) utilizando el método de la línea TEM (Transmission Line Method). Esta norma se aplica a los IC que contienen componentes electrónicos y están diseñados para operar en entornos electromagnéticos.
El objetivo de esta norma es proporcionar un método estándar para medir la inmunidad radiada de los IC, lo que permite evaluar su capacidad para resistir a las interferencias electromagnéticas (EMI) y garantizar el funcionamiento correcto en entornos radiados. El método de la línea TEM se basa en la propagación de ondas electromagnéticas a lo largo de una línea de transmisión, que simula el comportamiento del IC en un entorno radiado.
La norma establece los requisitos para la preparación y configuración del equipo de medición, así como las condiciones de prueba y análisis de los resultados. También se definen los parámetros de medición, como la potencia de la señal incidente, el nivel de campo electromagnético y la frecuencia de la señal.
La norma UNE-EN 62132-8:2012 es una herramienta importante para los fabricantes y usuarios de ICs, ya que proporciona un método estándar y confiable para evaluar su inmunidad radiada y garantizar el funcionamiento correcto en entornos electromagnéticos.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar