Fecha de publicación: 01/06/2017
Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 2: Mecanismos de deterioro (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2017.)
La norma UNE-EN 62435-2:2017, «Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 2: Mecanismos de deterioro», establece los requisitos y recomendaciones para la evaluación y mitigación de los mecanismos de deterioro en dispositivos electrónicos semiconductores almacenados durante períodos prolongados.
La norma se centra en identificar y analizar los procesos que pueden afectar negativamente el rendimiento y la fiabilidad de estos dispositivos, como la oxidación, la humedad, la radiación ionizante, la temperatura y la vibración. Estos mecanismos de deterioro pueden ser causados por factores internos o externos, tales como la calidad del material, la fabricación, el almacenamiento y el uso.
La norma establece procedimientos para evaluar los efectos de estos mecanismos de deterioro en dispositivos electrónicos semiconductores, incluyendo pruebas de resistencia a la humedad, oxidación y radiación. También se proporcionan recomendaciones para mitigar o prevenir el deterioro, como la selección adecuada del material, la protección contra la radiación y la estabilización térmica.
La norma UNE-EN 62435-2:2017 es de aplicación en la industria electrónica y semiconductores, y se destina a fabricantes, proveedores y usuarios finales que deseen garantizar la calidad y fiabilidad de sus dispositivos electrónicos semiconductores almacenados durante períodos prolongados.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar