Fecha de publicación: 01/08/2015
Sustrato empotrado en dispositivo. Especificación genérica. Método de ensayo (Ratificada por AENOR en agosto de 2015.)
La norma UNE-EN 62878-1-1:2015, «Sustrato empotrado en dispositivo. Especificación genérica. Método de ensayo», establece los requisitos y procedimientos para la evaluación de los sustratos empotrados en dispositivos electrónicos. Esta norma es aplicable a cualquier tipo de dispositivo que contenga un sustrato empotrado, como por ejemplo, placas impresoras, placas de circuito impreso (PCB), etc.
La especificación genérica establece los requisitos para la conformidad del sustrado empotrado en términos de materiales, dimensiones y acabados. El método de ensayo describe las pruebas que deben ser realizadas para evaluar las propiedades físicas y eléctricas del sustrato, como resistencia a la tracción, resistencia al abrasión, permeabilidad magnética, etc.
La norma también establece los procedimientos para la medición de las características del sustrato, como la densidad, la resistividad eléctrica, la tensión de ruptura y la deformación. Además, se definen los límites de tolerancia para cada una de estas características.
La ratificación por AENOR en agosto de 2015 garantiza que esta norma sea compatible con las normas internacionales y nacionales similares, lo que facilita su aplicación en diferentes contextos industriales y comerciales. En resumen, la norma UNE-EN 62878-1-1:2015 es una herramienta valiosa para garantizar la calidad y seguridad de los dispositivos electrónicos que contienen sustratos empotrados.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar