Fecha de publicación: 01/07/2022
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 10: Choque mecánico. Dispositivo y submontaje. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2022.)
La norma UNE-EN IEC 60749-10:2022 establece los métodos de ensayo para evaluar la resistencia a choques mecánicos en dispositivos de semiconductores y submontajes. Esta norma es una parte integral del estándar internacional IEC 60749, que abarca los métodos de ensayo mecánicos y climáticos para dispositivos de semiconductores.
La presente norma se centra en la evaluación de la capacidad de resistencia a choques mecánicos de dispositivos de semiconductores y submontajes, incluyendo componentes pasivos y activos. Los ensayos descritos en esta norma tienen como objetivo determinar la capacidad del dispositivo o submontaje para soportar choques mecánicos sin sufrir daños estructurales o funcionales.
Los métodos de ensayo establecidos en esta norma incluyen el uso de equipos de prueba específicos, como martillos y pistones, así como procedimientos de ensayo detallados. Los dispositivos y submontajes se someten a choques mecánicos controlados en diferentes direcciones y condiciones, lo que permite evaluar su capacidad para resistir fuerzas y momentos.
La norma UNE-EN IEC 60749-10:2022 es de aplicación en la industria electrónica y de semiconductores, y se utiliza como guía para garantizar la calidad y seguridad de los dispositivos y submontajes. Es importante mencionar que esta norma no establece requisitos específicos para la resistencia a choques mecánicos, sino que proporciona un marco general para evaluar la capacidad de resistencia de los dispositivos y submontajes.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar