Fecha de publicación: 01/07/2019
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 18: Radiación ionizante (dosis total) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2019.)
La norma UNE-EN IEC 60749-18:2019 se refiere a los métodos de ensayo para la evaluación de la resistencia de dispositivos de semiconductores a la radiación ionizante. Esta norma establece un procedimiento estándar para medir la dosis total de radiación ionizante que puede ser absorbida por un dispositivo semiconductor sin comprometer su función y seguridad.
La norma se aplica a todos los dispositivos de semiconductores, incluyendo diodos, transistores, circuitos integrados y otros componentes electrónicos. El objetivo es evaluar la capacidad del dispositivo para resistir la radiación ionizante y mantener sus características eléctricas sin alteraciones significativas.
El método de ensayo se basa en la exposición del dispositivo a una fuente de radiación ionizante, como un acelerador de partículas o un generador de rayos X. La dosis total de radiación es medida utilizando un detector adecuado y se expresa en unidades de gray (Gy).
La norma establece requisitos para la preparación del dispositivo antes del ensayo, incluyendo la selección de muestras representativas y la limpieza del dispositivo. También se definen los procedimientos para la medición de la dosis total y la evaluación de los resultados.
La aplicación práctica de esta norma es fundamental en la industria electrónica, ya que permite evaluar la resistencia de los dispositivos a la radiación ionizante y garantizar su seguridad y funcionalidad en entornos críticos.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar