Fecha de publicación: 12/10/2022
Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
[PDF] IEC 60749-37:2022 gratis
Fecha de publicación: 12/10/2022
Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar