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[PDF] IEC 63275-2:2022 gratis


Fecha de publicación: 11/05/2022

Semiconductor devices – Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors – Part 2: Test method for bipolar degradation due to body diode operation

IEC 63275-2:2022

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2 comentarios para ▷ [PDF] IEC 63275-2:2022 gratis

  1. gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...

  2. gracias, es dificil de encontrar sin pagar

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