Fecha de publicación: 30/05/2003
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 10: Choques mecánicos.
La norma UNE-EN 60749-10:2003, «Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 10: Choques mecánicos», establece los requisitos para la evaluación del comportamiento de los dispositivos de semiconductores ante choques mecánicos. Esta norma es aplicable a todos los dispositivos de semiconductores, incluyendo diodos, transistores, condensadores y otros componentes electrónicos.
La norma describe diferentes métodos para simular choques mecánicos en los dispositivos de semiconductores, como choques laterales, verticales y horizontales. Estos métodos se dividen en dos categorías: ensayos estáticos y dinámicos. Los ensayos estáticos consisten en aplicar fuerzas mecánicas aisladas o combinadas a los dispositivos, mientras que los ensayos dinámicos implican la aplicación de choques repetidos o continuos.
La norma también establece las condiciones para realizar los ensayos, incluyendo la temperatura ambiente, la humedad relativa y la orientación del dispositivo. Además, se definen los parámetros de medición que deben ser evaluados después de cada ensayo, como la resistencia, la tensión y la corriente.
La aplicación de esta norma es fundamental para garantizar la confiabilidad y la fiabilidad de los dispositivos de semiconductores en diferentes aplicaciones, desde la electrónica de consumo hasta la industria aeroespacial. Los fabricantes y usuarios de dispositivos de semiconductores deben cumplir con los requisitos establecidos por esta norma para garantizar la calidad y seguridad de sus productos.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar