Fecha de publicación: 22/11/2019
Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electro-mechanical devices
Fecha de publicación: 22/11/2019
Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electro-mechanical devices
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar